X射線(xiàn)衍射分(fēn)析法是研究物(wù)质的物(wù)相和晶體(tǐ)结构的主要方法。当某物(wù)质(晶體(tǐ)或非晶體(tǐ))进行衍射分(fēn)析时，该物(wù)质被X射線(xiàn)照射产生不同程度的衍射现象，物(wù)质组成、晶型、分(fēn)子内成键方式、分(fēn)子的构型、构象等决定该物(wù)质产生特有(yǒu)的衍射图谱。X射線(xiàn)衍射方法具有(yǒu)不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能(néng)得到有(yǒu)关晶體(tǐ)完整性的大量信息等优点。因此，X射線(xiàn)衍射分(fēn)析法作為(wèi)材料结构和成分(fēn)分(fēn)析的一种现代科(kē)學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科(kē)研究和生产中广泛应用(yòng)。
X射線(xiàn)衍射仪(XRD)是通过对材料进行X射線(xiàn)衍射，分(fēn)析其衍射图谱，获得材料的成分(fēn)、材料内部原子或分(fēn)子的结构或形态等信息的研究手段。
X射線(xiàn)衍射仪使用(yòng)注意事项：
(1)固體(tǐ)样品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可(kě)以用(yòng)几块粘贴一起。
(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。
(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏體(tǐ)，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或電(diàn)解抛光，消除表面应变层。
(4)粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。