在購(gòu)买手持式XRF分(fēn)析仪时，确定需要硅漂移探测器（SDD）还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。
奥林巴斯Vanta Element XRF系列中的两款分(fēn)析仪就配备了两种不同的探测器：Vanta Element分(fēn)析仪装配有(yǒu)PIN探测器，而Vanta Element-S分(fēn)析仪装配有(yǒu)SDD探测器。
硅漂移检测器（SDD）是一种较新(xīn)的技术，其每秒(miǎo)钟的X射線(xiàn)计数率比PIN探测器大约多(duō)10倍。SDD探测器的分(fēn)辨率也比PIN探测器大约低40 eV。不过，伴随着SDD性能(néng)的提高是成本的增加。在确定哪种探测器更适合您的时候，您需要考虑打算如何使用(yòng)XRF分(fēn)析仪。在此要问您两个重要的问题：1、您是否需要测量一些轻元素，如：镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）或钙（Ca）?这些较轻元素的定量性检测只能(néng)由装配有(yǒu)SDD探测器的分(fēn)析仪完成。许多(duō)人因此错误地认為(wèi)不能(néng)使用(yòng)装配了PIN探测器的分(fēn)析仪对铝合金进行分(fēn)拣。但是，配备了PIN探测器的分(fēn)析仪可(kě)以基于较重元素（如：铜、铬或铁）的含量对许多(duō)铝合金牌号进行分(fēn)拣。当然要进行更细微的區(qū)分(fēn)，如：镁含量不同的6061铝和6063铝，需要使用(yòng)配备了SDD探测器的分(fēn)析仪。
2、您是否需要较低的检出限？
SDD探测器的检出限（LOD）通常比PIN探测器低约3倍。SDD探测器也比PIN探测器的计数率高，因此具有(yǒu)更高的精密度和灵敏度。
哪种分(fēn)析仪更适合您？
我们希望上面的问题已经帮助您确定了使用(yòng)哪种探测器，这意味着您向購(gòu)买一款合适分(fēn)析仪的目标又(yòu)迈近了一步。如果您需要SDD探测器，那么您可(kě)能(néng)需要详细了解我们的Vanta Element-S手持式XRF分(fēn)析仪，这款价格实惠的分(fēn)析仪可(kě)以探测轻元素，并对合金进行辨别。这款分(fēn)析仪可(kě)以在几秒(miǎo)钟之内快速、精确地辨别镁（Mg）、铝（Al）和硅（Si）元素。分(fēn)析仪的SDD探测器还可(kě)以區(qū)分(fēn)相似的合金牌号，如：303和304不锈钢，6061和1100铝，以及6063和1100铝。这款分(fēn)析仪可(kě)以有(yǒu)效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量，是完成废料回收、基本PMI（材料成分(fēn)辨别）、金属制造和贵金属识别等应用(yòng)的理(lǐ)想工具。
如果您需要PIN探测器，那么请您仔细了解一下我们的初级Vanta Element分(fēn)析仪，这款价格实惠的分(fēn)析仪可(kě)以对合金进行辨别。
无论您选择哪款分(fēn)析仪，您都可(kě)以放心使用(yòng)，因為(wèi)两款分(fēn)析仪都具有(yǒu)使Vanta系列分(fēn)析仪声名遠(yuǎn)扬的基本特性：检测迅速，结果可(kě)靠，坚固耐用(yòng)，连通性好，而且其操作便捷性堪比智能(néng)手机。两款分(fēn)析仪都具有(yǒu)以下优势特性：
符合IP54评级标准，具有(yǒu)防尘、防潮的特性。
通过了坠落测试（MIL-STD-810G），可(kě)避免分(fēn)析仪在坠落时受到损坏，从而减少了对分(fēn)析仪进行高成本维修的需求。
Axon技术有(yǒu)助于迅速可(kě)靠地完成检测。
借助奥林巴斯科(kē)學(xué)云系统 ，可(kě)以实现云连接和现代化的数据共享。
