伊诺斯Innov-X Systems 新(xīn)推出的移动式X系列矿石分(fēn)析仪，功能(néng)强大，便于携带，是同类分(fēn)析仪的基准。X系列仪器采用(yòng)10W，50Kv的射線(xiàn)管，超大探测面的探测器，多(duō)种分(fēn)析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能(néng)最强大的移动式分(fēn)析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有(yǒu)元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分(fēn)析。同时也很(hěn)适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪系统规格：
尺寸 | 外形尺寸：328x280x380mm； 展开尺寸：328x690x460mm； 样品室尺寸：287x145x114mm； |
重量 | 26lbs；11Kg |
环境要求 | 环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄 |
激发源 | 0~50kV多(duō)段可(kě)选择的電(diàn)压；200uA |
探测器 | 有(yǒu)SI-PIN；SDD；等不同的探测器可(kě)选择 |
冷却系统 | 采用(yòng)了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器 |
滤波器 | 6个滤波片可(kě)自动切换 |
電(diàn)压、電(diàn)流 | 電(diàn)压15~40kv,電(diàn)流可(kě)达200uA |
電(diàn)力要求 | 10~240VAC；50~60Hz, 最小(xiǎo)電(diàn)力100W |
主机供電(diàn)系统 | 10~240VAC；50~60Hz交流電(diàn)； 锂電(diàn)池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可(kě)选项) |
显示器 | 整机一體(tǐ)化设计，工业级高分(fēn)辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分(fēn)辨率800*600 |
显示器固定方式 | 一體(tǐ)机设计,整机连體(tǐ)构造，可(kě)防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率 |
数据显示 | 百分(fēn)比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可(kě)排序 |
数据存储 | 内存504M，硬盘18.6G |
处理(lǐ)器CPU | Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M |
操作系统 | Microsoft Windows XP ,SP2
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Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪用(yòng)途：
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪模式与元素：
可(kě)分(fēn)析从镁矿（Mg）到铀矿（U）之间的83种金属矿、非金属矿、贵重金属矿、稀有(yǒu)金属矿等自然矿，分(fēn)析范围从PPM到100%
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪应用(yòng)界面：
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪技术性能(néng)：
1.采用(yòng)10W，50Kv的射線(xiàn)管，具有(yǒu)实验室的精度，是目前世面上功能(néng)最强大的移动式分(fēn)析仪。
2.采用(yòng)多(duō)光束技术，使重金属元素、过渡元素、轻质元素的分(fēn)析效果达到最佳 只需直接接触待测物(wù)表面，即可(kě)现场确定矿石等级、元素鉴定。
3.可(kě)以检测的样品如矿石、岩石、岩芯、矿渣、碎片；土壤、 泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物(wù)、薄膜层；废水、废油、等等的固體(tǐ)、液體(tǐ)物(wù)质。
4.可(kě)添加并很(hěn)好地测试贵重金属元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有(yǒu)元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的现场移动式分(fēn)析仪。
5.工业级触摸式高清高分(fēn)辨率彩色TFT触摸屏、電(diàn)脑、仪器一體(tǐ)化密封设计，有(yǒu)很(hěn)好的三防性能(néng)，可(kě)承受恶劣的工作环境。密封的仪器可(kě)在雨天、尘土飞扬的室外环境中長(cháng)时间稳定工作。
6.真正实现了现场快速、准确的检测，直接显示元素的ppm含量与百分(fēn)比含量。
7.仪器内置风扇，散热性好，根本性解决XRF仪器存在的散热问题。
8.采用(yòng)Windows XP SP2操作系统，可(kě)外接USB、鼠标、键盘、打印、INTERNET等通用(yòng)外设，具有(yǒu)良好的兼容性。
9.超大规模的存储系统，内存504M，硬盘18.6G可(kě)存储数据高达86万组数据及图谱。
10.具有(yǒu)自动校准、诊断、故障报告功能(néng)，可(kě)通过INTERNET遠(yuǎn)程诊断机器故障与软件升级
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪LOD
测试样品為(wèi)匀质SiO ,无干扰元素，测试时间為(wèi)120秒(miǎo)，LOD值单位為(wèi)PPM；
多(duō)段電(diàn)压、单段電(diàn)压与不同元素的LOD的关系表明多(duō)段電(diàn)压可(kě)以对不同的元素有(yǒu)很(hěn)好的LOD下图為(wèi)X-5000对SiO2 的120秒(miǎo)检测结果。
Innov-X X系列矿石分(fēn)析仪：
1. 模式：Soil（3 Beam）、Mining、 2 Beam Mining
2. 硅漂移SDD探测器（Si drift）
3. 10W X射線(xiàn)管
4. 能(néng)测试Mg、Al、Si、P、S…