随着工业生产自动化水平的提升以及生产流程安全高效运行要求不断提高，行业对各类材料以及零部件的成分(fēn)检测提出了更高的要求。易诺科(kē)技奥林巴斯提供一系列基于X射線(xiàn)表征材料的仪器，可(kě)使客户在需要时随时随地进行检测分(fēn)析。
X射線(xiàn)衍射（XRD）分(fēn)析仪BTX III XRD是一款机身小(xiǎo)巧的台式分(fēn)析仪，可(kě)以為(wèi)用(yòng)户提供矿物(wù)主要成分(fēn)和次要成分(fēn)的可(kě)靠的定量性矿物(wù)學(xué)信息。这款分(fēn)析仪将性能(néng)强大的软件和改进的X射線(xiàn)探测器结合在一起使用(yòng)，提高了检测的速度和灵敏度。
BTX III台式XRD分(fēn)析仪
同样在检测分(fēn)析方面有(yǒu)着出色表现的VANTA Element-S手持式X射線(xiàn)荧光（XRF）分(fēn)析仪，吸引了众多(duō)专业人士的咨询、體(tǐ)验。在对材料进行分(fēn)拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分(fēn)缓慢。VANTA Element-S分(fēn)析仪配备硅漂移探测器（SDD），可(kě)对元素进行分(fēn)析，并在几秒(miǎo)内对合金进行牌号辨别和分(fēn)拣，能(néng)够快速有(yǒu)效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。