手持式合金分(fēn)析仪是基于X射線(xiàn)理(lǐ)论而诞生的，它主要用(yòng)于军工、航天、钢铁、石化、電(diàn)力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域必不可(kě)少的快速成份鉴定工具。
手持式合金分(fēn)析仪的是一种XRF光谱分(fēn)析技术，可(kě)用(yòng)于确认物(wù)质里的特定元素，同时将其量化。它可(kě)以根据X射線(xiàn)的发射波長(cháng)(λ)及能(néng)量(E)确定具體(tǐ)元素，而通过测量相应射線(xiàn)的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能(néng)测定物(wù)质的元素构成。
每一个原子都有(yǒu)自己固定数量的電(diàn)子(负電(diàn)微粒)运行在核子周围的轨道上。而且其電(diàn)子的数量等同于核子中的质子(正電(diàn)微粒)数量。从元素周期表中的原子数我们则可(kě)以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。能(néng)量色散X萤光与波長(cháng)色散手持式合金分(fēn)析仪X荧光光谱分(fēn)析技术特别研究与应用(yòng)了最里层三个電(diàn)子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道接近核子，每个電(diàn)子轨道则对应某元素一个个特定的能(néng)量层。
手持式合金分(fēn)析仪在XRF分(fēn)析法中，从X射線(xiàn)管发出来的X射線(xiàn)撞击样本元素之后，会返回X荧光光谱，不同的元素所返回的X荧光光谱不一样。这些初级光子含有(yǒu)足够的能(néng)量可(kě)以将里层即K层或L层的電(diàn)子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于電(diàn)子本能(néng)会寻求稳定，外层L层或M层的電(diàn)子会进入弥补内层的空间。在这些電(diàn)子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能(néng)量，我们称之為(wèi)二次X射線(xiàn)光子。